采用双 UF-CPC 实现分级过滤效率的同步测定

MFP Nano Plus 4000 的分级效率同步测量技术具有以下突出优势：

• 通过原始气体与洁净气体中颗粒浓度的真实同步测量，将分级效率测定时间缩短一半。
• 采用 UF-CPC 200 与 UF-CPC 50 的组合方案——前者适用于原始气体最高 2,000,000 颗粒/立方厘米（单计数模式）的高浓度测量，后者针对洁净气体低浓度场景实现最大计数效率，相当于实现 1:200 的稀释比。因此在对高效滤材测试时，可省去传统气溶胶稀释步骤。

通用型气溶胶发生器 UGF 2000 可配合 DEHS 或盐溶液（NaCl/KCl），生成与 MPPS 范围精准匹配的气溶胶分布。

测试序列的高度自动化、明确定义的独立组件以及 FTControl 过滤测试软件可定制化程序，共同确保测量结果的高可靠性。

MFP 过滤测试台采用模块化设计，专用于平面滤料及小型过滤器的测试。该系统可在极短时间内，可靠且经济地测定压力损失曲线、分级过滤效率及容尘量等关键参数。

1. 可变气溶胶发生：采用 UGF 2000 发生器，适用于生成 KCl / NaCl 或 DEHS 介质气溶胶。集成 Nafion 干燥管段，气溶胶生成的体积流量通过质量流量控制器独立调控。

2. 气溶胶中和：配备软 X 射线中和器 XRC 049，或可选配电晕放电装置。

3. 移动式气动过滤夹具：用于快速装卸集成 DEMC 2000（差分电迁移分级器）的测试台。内置于 U-SMPS 的 DEMC 2000 对 UGF 2000 产生的多分散气溶胶进行粒径预分级，使测试气溶胶中仅存在单分散颗粒，相应粒径由 DEMC 2000 控制单元自动调节。

4. 高浓度原始气体测量：采用 UF-CPC 200 凝结核粒子计数器，对原始气体进行颗粒数量分布测量。该设备单计数模式最高可检测 2,000,000 颗粒/立方厘米的浓度，这意味着在进行高浓度原始气体测量时无需配备稀释系统，同时省去了耗时的设备清洁流程。

5. 低浓度洁净气体测量：专为低浓度环境优化的“全流式” UF-CPC 50 计数器（单计数模式最高支持 10,000 颗粒/立方厘米），通过全流量分析技术对采样气体进行完整检测，从而在低颗粒浓度的洁净气体中实现极高的计数效率。

Palas 过滤测试软件 FTControl 对 U-SMPS 系统进行全流程控制并完成数据评估分析。

通过精准调节溶液浓度，可使 MFP Nano Plus 4000 中生成的颗粒物粒径分布精准匹配至对应的最易穿透粒径区间。

图1：采用 DEHS 介质调整颗粒粒径至目标MPPS范围

图2：140 纳米处 MPPS 范围内分级过滤效率对比

自动化运行：

MFP Nano Plus 4000 内置质量流量控制器用于体积流量调节，可通过 FTControl 过滤测试软件实现自动控制。测试过程中，滤器的体积流量、压差等传感器数据均被自动记录。

原始气体与洁净气体的采样合规性验证：

在系统调试阶段，通过无滤芯状态下的原始气体与洁净气体测量对比，完成采样合规性验证。

MFP Nano Plus 4000 可轻松实现最易穿透粒径区间及全量程的分级效率测量，并能在各流速点同步精准测定滤料的对应压力损失。