粉尘形成特性的表征与比较

图1：DustView II 结构示意图

样品（通常为 30 克散装物料）被倒入样品漏斗中。测量开始时，阀门自动打开，样品落入粉尘收集仓。测量在阀门开启后立即开始。

粉尘在收集仓内扩散。产生的扬尘会导致激光束发生衰减（消光测量法）。该衰减过程在测量期间被持续监测，并被量化为 0 至 100 之间的粉尘值（0 = 因扬尘导致的激光束衰减为零，即收集仓内仅有微量粉尘；100 = 扬尘导致激光束完全衰减）。

粉尘值随时间变化，反映激光束相对于 0 值（无衰减）的衰减程度。每次测量前，系统会自动在没有粉尘的情况下测定 0 值（校准）。测量结束后，数据将自动存储。

粉尘数（STZ） 由最大粉尘值及达到最大粉尘值 30 秒后的粉尘值共同构成：

粉尘数（STZ）= 最大粉尘值 + 30 秒后的粉尘值

---

对比测量

图2：两种散装物料的对比

由于其更细的粒径分布及材料自身特性，水泥样品产生的粉尘明显多于小麦粉样品。小麦粉含有更大颗粒，这些颗粒会迅速沉降到收集仓底部。相比之下，几乎全部更细的水泥颗粒在 30 秒后仍悬浮在空气中。

此类对比能够帮助快速、可验证地优化产品的粉尘表现。

测量结果的高度可重复性，使得对散装物料进行简便、经济的过程控制成为可能。

---

扩展 / 配件

测量完成后，结果会直接在设备上显示，包括数值形式与时序曲线图。结果的自动存储功能支持在不连接外部电脑的情况下分析历史测量数据。

系统可生成 PDF 或文本格式报告，并可通过打印机即时打印。

除分析单次测量外，DustView II 固件支持最多十次测量结果的对比分析，并可同样生成上述格式的报告。

利用系列测量功能，亦可简便、快速地对多次测量结果进行平均处理。

设备还包含用于在外部电脑上分析测量数据的评估软件。

DustView II 测量设备是在 2008 至 2010 年间，通过 AIF Pro INNO II 研究项目（KF 0295803WZ8）与德国伍珀塔尔大学（Prof.-Dr. E. Schmidt 教授）合作研发而成。